Vækstaktier

FOM Technologies har i dag annonceret et nyt strategisk samarbejde med med Xenocs, som er en global leder inden for avancerede røntgenkarakteriseringsteknologier.

Dette strategiske partnerskab bringer to innovationsdrevne organisationer i spidsen for materialevidenskabelig forskning sammen. Med over 25 års erfaring er Xenocs internationalt anerkendt for sit arbejde inden for små- og vidvinkel røntgenspredningsteknikker og røntgenbilleddannelsesteknikker, suppleret med avancerede softwareværktøjer og en exceptionel kundesupportstruktur. Deres teknologier bruges af førende akademiske og industrielle laboratorier verden over.

Gennem dette partnerskab vil FOM Technologies’ FOM photonR2R, præcisions-slot-die-coater, integreres med Xenocs’ avancerede røntgeninstrumentering for at muliggøre problemfri in situ-karakterisering af tyndfilm – et vigtigt skridt i optimeringen af processer for batterier, solceller, membraner, trykt elektronik og mere. Sammen sigter selskaberne mod at bygge bro mellem aflejring og analyse og give forskere mulighed for at få hurtigere indsigt i filmmorfologi, ensartethed og intern struktur under coatingprocessen.

Med begge virksomheders fortsatte ekspansion i Europa, Nordamerika og Asien, styrker dette samarbejde selskabets evne til at støtte forskere på tværs af geografiske områder og discipliner, ved at kunne tilbyde yderligere specialiserede løsninger. For FOM Technologies bistår samarbejdet med at tilføje et nyt applicationsområde med potentiel kommerciel afsætning.

Michael Stadi, Group CEO for FOM Technologies, udtaler:

Dette samarbejde er forankret i en fælles mission om at accelerere videnskabelig opdagelse. Kombinationen af ​​vores skalerbare belægningsløsninger med Xenocs’ analytiske instrumenter i verdensklasse skaber nye muligheder for forskere til at karakterisere og forfine deres materialer i realtid, hvilket i sidste ende fremskynder innovationscyklussen.